實(shí)時(shí)事件是ZDL6000示波記錄儀最先進(jìn)的功能，這是一種可以使示波記錄儀運(yùn)行在波形滾動(dòng)模式下無死區(qū)地對(duì)波形進(jìn)行實(shí)時(shí)條件判定的功能，當(dāng)滿足觸發(fā)條件時(shí)，可對(duì)觸發(fā)點(diǎn)前后各一段波形進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，大大節(jié)省存儲(chǔ)空間和查找異常波形的時(shí)間。
實(shí)時(shí)事件是ZDL6000示波記錄儀最先進(jìn)的功能，這是一種可以使示波記錄儀運(yùn)行在波形滾動(dòng)模式下無死區(qū)地對(duì)波形進(jìn)行實(shí)時(shí)條件判定的功能，當(dāng)滿足觸發(fā)條件時(shí)，可對(duì)觸發(fā)點(diǎn)前后各一段波形進(jìn)行數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，大大節(jié)省存儲(chǔ)空間和查找異常波形的時(shí)間。
實(shí)時(shí)分析是ZDL6000示波記錄儀最智能的功能，它可以在滾動(dòng)模式下實(shí)時(shí)對(duì)屏幕中的波形進(jìn)行分析運(yùn)算，它可以幫助用戶在長時(shí)間的重復(fù)性測(cè)試中，以自動(dòng)化的機(jī)器測(cè)試代替重復(fù)性的人工測(cè)試，大大提高了測(cè)試效率。實(shí)時(shí)分析功能包含了波形時(shí)序分析、波形趨勢(shì)分析以及波形諧波分析。
實(shí)時(shí)分析是ZDL6000示波記錄儀最智能的功能，它可以在滾動(dòng)模式下實(shí)時(shí)對(duì)屏幕中的波形進(jìn)行分析運(yùn)算，它可以幫助用戶在長時(shí)間的重復(fù)性測(cè)試中，以自動(dòng)化的機(jī)器測(cè)試代替重復(fù)性的人工測(cè)試，大大提高了測(cè)試效率。實(shí)時(shí)分析功能包含了波形時(shí)序分析、波形趨勢(shì)分析以及波形諧波分析。
大數(shù)據(jù)分析是ZDL6000示波記錄儀最靈活的功能，他打破了傳統(tǒng)儀器在設(shè)計(jì)時(shí)只保有固定的分析方法和觸發(fā)方案，大數(shù)據(jù)分析允許用戶加載自定義的分析算法，尤其是面對(duì)固定的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（典型如國標(biāo)測(cè)試、IEC標(biāo)準(zhǔn)等）或者有規(guī)律的測(cè)試方法時(shí)，它將可以大大提高數(shù)據(jù)分析的效率。
大數(shù)據(jù)分析是ZDL6000示波記錄儀最靈活的功能，他打破了傳統(tǒng)儀器在設(shè)計(jì)時(shí)只保有固定的分析方法和觸發(fā)方案，大數(shù)據(jù)分析允許用戶加載自定義的分析算法，尤其是面對(duì)固定的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)（典型如國標(biāo)測(cè)試、IEC標(biāo)準(zhǔn)等）或者有規(guī)律的測(cè)試方法時(shí)，它將可以大大提高數(shù)據(jù)分析的效率。
波形對(duì)比功能是ZDL6000示波記錄儀最具創(chuàng)意的功能。它允許用戶隨時(shí)隨地的保存屏幕中的波形到波形對(duì)比庫，用戶可以方便的將所有保存的波形進(jìn)行對(duì)比分析，觀察波形走勢(shì)以及差異化。
波形對(duì)比功能是ZDL6000示波記錄儀最具創(chuàng)意的功能。它允許用戶隨時(shí)隨地的保存屏幕中的波形到波形對(duì)比庫，用戶可以方便的將所有保存的波形進(jìn)行對(duì)比分析，觀察波形走勢(shì)以及差異化。
柔性ATE系統(tǒng)集成是ZDL6000示波記錄儀最大膽的功能。傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)和被測(cè)設(shè)備綁定，更換被測(cè)產(chǎn)品之后，原ATE系統(tǒng)中的設(shè)備和上位機(jī)軟件難以再次復(fù)用，柔性ATE系統(tǒng)集成則靈活、多樣、復(fù)用度高，我們正將一臺(tái)ZDL6000示波記錄儀改造成一套完整的測(cè)試系統(tǒng)大腦。
柔性ATE系統(tǒng)集成是ZDL6000示波記錄儀最大膽的功能。傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)和被測(cè)設(shè)備綁定，更換被測(cè)產(chǎn)品之后，原ATE系統(tǒng)中的設(shè)備和上位機(jī)軟件難以再次復(fù)用，柔性ATE系統(tǒng)集成則靈活、多樣、復(fù)用度高，我們正將一臺(tái)ZDL6000示波記錄儀改造成一套完整的測(cè)試系統(tǒng)大腦。
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